一种用于真空膜检测的水平调整装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于真空膜检测的水平调整装置,包括机体及安装在机体上的安装架,所述安装架上安装有检测电极,所述机体上安装有放置台,所述放置台位于检测电极的下方,所述放置台上设置有便于真空膜检测的固定机构及水平调整机构;所述水平调整机构包括对称设置在放置台两侧的安装板,两个所述安装板通过滑动组件滑动连接在机体上。本实用新型的用于真空膜检测的水平调整装置,在需要对真空膜进行检测时,可以形成真空膜检测过程过程中的水平调整机构,通过固定机构的固定及第一弹簧的弹力挤压,保证了真空膜在放置台上的水平度,操作简单、实施便捷,更加便于真空膜的检测操作。

基本信息
专利标题 :
一种用于真空膜检测的水平调整装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122672576.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-03
授权号 :
CN216206011U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
李万新
申请人 :
上海仁晶测量技术有限公司
申请人地址 :
上海市奉贤区金碧路2012号
代理机构 :
北京华沛德权律师事务所
代理人 :
房德权
优先权 :
CN202122672576.0
主分类号 :
G01B7/06
IPC分类号 :
G01B7/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B7/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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