一种多方向上下料自动光学检测盒
授权
摘要
本实用新型公开了一种多方向上下料自动光学检测盒，用于片状物体的光学检测，包括一盒体结构，该盒体结构包括作为检测盒运动平台的底板和竖立在所述底板上表面的多个侧立支架；所述盒体结构在其中至少两个侧立支架上开设有用于片状物体上下料的孔口，各所述孔口的开口方向沿片状物体的上下料路径方向设置；所述盒体结构在开设有孔口的各侧立支架之间通过连接支架紧固连接。本实用新型解决了现有设备上下料方向单一的问题，在实际使用中可根据上下料方向的改变对上下料孔口进行灵活调整，提高设备检测效率，缩短了设备调整、安装、检测所需要的时间，同时也使创新设计的盒体结构的结构强度得以增加。
基本信息
专利标题 ：
一种多方向上下料自动光学检测盒
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122676313.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-03
授权号 ：
CN216695067U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
张强
申请人 ：
江苏匠岭半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟市东南街道东南大道1150号10-1幢
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
马明渡
优先权 ：
CN202122676313.7
主分类号 ：
G01D21/00
IPC分类号 ：
G01D21/00 G01D11/00 G01D11/24 G01D11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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