自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统
授权
摘要
本发明公开了一种自动光学检测方法，包括以下步骤。首先，撷取光学膜片的膜片影像。然后，以特征分类技术，判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别，其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型。然后，以机器学习分类技术，判断缺陷影像所属的缺陷型。
基本信息
专利标题 ：
自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110715941A
申请号 ：
CN201911031438.5
公开（公告）日 ：
2020-01-21
申请日 ：
2019-10-28
授权号 ：
CN110715941B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
林宽宏
申请人 ：
住华科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台南市善化区环东路2段32号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
张燕华
优先权 ：
CN201911031438.5
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/88 G06K9/62
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2020-02-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20191028
申请日 : 20191028
2020-01-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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