自动光学检测系统和方法
专利权的终止
摘要
一种自动光学检测系统，包括：用于提供检测对象的装载器；视觉检测组件，其用于检测装载器所提供的检测对象的表面；标记单元，其用于在检测对象上连续形成的挠性PCB单元中被视为劣质的挠性PCB单元上作劣质产品标记；以及用于卸载已被检测的检测对象的卸载器。
基本信息
专利标题 ：
自动光学检测系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1828217A
申请号 ：
CN200610057815.9
公开（公告）日 ：
2006-09-06
申请日 ：
2006-02-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
崔铉镐俞泰明
申请人 ：
AJU高技术公司
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
武玉琴
优先权 ：
CN200610057815.9
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01C11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2014-04-16 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101581572231
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2006100578159
申请日 : 20060227
授权公告日 : 20120530
终止日期 : 20130227
号牌文件序号 : 101581572231
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2006100578159
申请日 : 20060227
授权公告日 : 20120530
终止日期 : 20130227
2012-05-30 ：
授权
2008-04-23 ：
实质审查的生效
2006-09-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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