用于压强式细粒土颗粒分析仪的电子天平
授权
摘要

本实用新型公开一种用于压强式细粒土颗粒分析仪的电子天平,包括有外框架、支座、托盘、外杯以及内杯;该外框架具有容置空间,外框架的底部开设有通孔,该支座穿过通孔伸出外框架的底部;该托盘设置于支座上并位于容置空间中;该外杯具有开口朝上用于盛装液体的第二容置腔;该内杯倒扣在第二容置腔的液体中并与外框架连接,内杯与外杯彼此分离,内杯具有第三容置腔。本实用新型电子天平专用于压强式细粒土颗粒分析仪,测试过程中没有比重计的扰动影响,也没有移液管不能严格定深h吸样液的问题,其采用定深、定时测样液的压强原理,操作简便、快捷,测试结果更为准确。

基本信息
专利标题 :
用于压强式细粒土颗粒分析仪的电子天平
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122731214.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-09
授权号 :
CN216208409U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
施捷石民钟洪卫戴鹏陈桂梅
申请人 :
湖南和天工程项目管理有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市长沙高新技术产业开发区麓松路480号
代理机构 :
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 :
汪学品
优先权 :
CN202122731214.4
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  G01G21/00  G01G23/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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