一种用于消除摩尔纹的光学检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于消除摩尔纹的光学检测装置，其包括定位单元，用于定位待测件；点灯单元，用于点亮待测件；拍摄单元，用于拍摄待测件；所述拍摄单元设置于所述定位单元上方；还包括旋转单元，用于驱动定位单元相对于拍摄单元旋转。本实用新型能够根据不同类型待测件点灯测试需要快速地实现待测件与拍摄单元之间相对角度的自动化调节，以达到摩尔纹减少或消除。
基本信息
专利标题 ：
一种用于消除摩尔纹的光学检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122736114.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-09
授权号 ：
CN216622187U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
方欣余鑫罗德福朱兴宇黄雄俊
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN202122736114.0
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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