用于检测玻璃基板的光学检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了用于检测玻璃基板的光学检测装置,包括基座,所述基座上焊接有固定支架和H形支架,两个所述固定支架之间设置有承载台,所述基座顶端最右侧设置有光学检测装置本体,所述承载台与基座固定连接,左侧所述固定支架上焊接有限位环,所述限位环中滑动连接有T形杆,两个所述T形杆的一端焊接有同一齿条,所述T形杆和齿条均与左侧固定支架滑动连接,所述齿条上啮合有不完全齿轮。本实用新型通过设置齿条、摆动架、齿轮和吸盘,转轮带动摆动架进行往复摆动,从而使齿轮往复摆动,齿轮使齿板上下往复运动,从而实现吸盘对玻璃基板的表面进行吸附固定,使得检测时,玻璃基板能够稳定放置在承载台上,避免造成玻璃基板损坏。

基本信息
专利标题 :
用于检测玻璃基板的光学检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021301181.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-06
授权号 :
CN212568499U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
张金露
申请人 :
武汉钟码科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市黄陂区盘龙城经济开发区刘店村卓尔优势企业总部基地一、二期(高层创意空间)第2号楼B座1单元15层1号
代理机构 :
武汉华强专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
康晨
优先权 :
CN202021301181.9
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-06-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20200706
授权公告日 : 20210219
终止日期 : 20210706
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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