基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法
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摘要

本公开涉及一种基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法,该基板玻璃检测设备用于检测基板玻璃的对比度,其包括第一支架和第二支架,第一支架包括第一底座和设置在第一底座上端的第一载物台,第一载物台上设置有光源和第一偏振片,第二支架包括第二底座和设置在第二底座上端的第二载物台,第二载物台上设置第二偏振片,第二偏振片绕垂直其表面的轴线可转动地设置于第二载物台,第一载物台能够相对于第一底座转动和/或第二载物台能够相对于第二底座转动,以使该基板玻璃检测设备处于检测位置,第一偏振片所在的平面和第二偏振片所在的平面能够成角度设置。上述设备能够使基板玻璃上显现出用于判定对比度的图案,以此实现对其对比度的检测。

基本信息
专利标题 :
基板玻璃检测设备和基板玻璃对比度检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110806650A
申请号 :
CN201911032358.1
公开(公告)日 :
2020-02-18
申请日 :
2019-10-28
授权号 :
CN110806650B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
李青李赫然张北斗郭标富陈德青彭开峰王号陈浩干丛龙李俊生李震石志强李兆廷
申请人 :
芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司
申请人地址 :
安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈庆超
优先权 :
CN201911032358.1
主分类号 :
G02F1/13
IPC分类号 :
G02F1/13  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
法律状态
2022-05-03 :
授权
2020-03-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/13
申请日 : 20191028
2020-02-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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