基板检测方法、基板检测治具
公开
摘要
本申请公开了一种基板检测方法、一种基板检测治具，该基板检测方法包括：提供一待检测基板、一基板检测治具，基板检测治具至少包括负压模块、检测模块；通过负压模块与待检测基板的TFT器件连接，利用负压模块使TFT器件关断更严，减少TFT器件的漏电；先通过负压模块减少TFT器件的漏电，然后再利用检测模块测量第一测试端子与第二测试端子之间的目标参数，降低了TFT器件的漏电对目标参数的影响，避免了对目标参数的误判。
基本信息
专利标题 ：
基板检测方法、基板检测治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609812A
申请号 ：
CN202210373085.2
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-04-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
白一晨
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨瑞
优先权 ：
CN202210373085.2
主分类号 ：
G02F1/13
IPC分类号 ：
G02F1/13 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的，例如单位液晶显示单元
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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