阵列基板的检测方法及检测设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种阵列基板的检测方法及检测设备，所述检测方法包括：对待检测的阵列基板施加高电压；对所述阵列基板的待检测线路进行开短路检测。本发明通过在对待检测的阵列基板进行开短路检测之前，先对所述阵列基板施加高电压以将所述阵列基板上的大部分线缺陷恶化出来，然后再对所述阵列基板进行开短路检测，提高了开短路测试对进行性线缺陷的检出能力。
基本信息
专利标题 ：
阵列基板的检测方法及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114495778A
申请号 ：
CN202210115755.0
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-02-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何伟
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王红红
优先权 ：
CN202210115755.0
主分类号 ：
G09G3/00
IPC分类号 ：
G09G3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G09
教育；密码术；显示；广告；印鉴
G09G
对用静态方法显示可变信息的指示装置进行控制的装置或电路传输数据的装置在数字计算机与显示器之间入G06F3/14；由若干分离源或光控的光电池结合而成的静态指示装置入G09F9/00；由若干光源的组合而构成的静态的指示装置入H01J，H01K，H01L，H05B33/12；文件或者类似物的扫描、传输或者重现，如传真传输，其零部件入H04N1/00）
G09G3/00
仅考虑与除阴极射线管以外的目视指示器连接的控制装置和电路
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G09G 3/00
申请日 : 20220207
申请日 : 20220207
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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