阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板
授权
摘要

本发明公开了一种阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板。阵列基板线路检测结构包括:多个测试单元,每个测试单元包括m个测试线组,每个测试线组包括n条测试线,其中m为大于等于2的整数,n为大于等于2的整数,每个测试单元的各测试线依次排列,按照各测试线的排列顺序,每间隔m‑1条的测试线属于同一个测试线组,测试线用于与阵列基板的信号线电连接;测试焊盘,对应每个测试线组设置有一个测试焊盘,每个测试线组的测试线电连接至同一个测试焊盘,测试焊盘用于通过对应的测试线组的各测试线向对应的信号线输入测试信号以及接收对应的信号线的反馈信号。通过本发明公开的阵列基板线路检测结构能够对信号线短路进行检测。

基本信息
专利标题 :
阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110824799A
申请号 :
CN201911134051.2
公开(公告)日 :
2020-02-21
申请日 :
2019-11-19
授权号 :
CN110824799B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
曹婷婷施文峰胡婷平雷权
申请人 :
合肥维信诺科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市新站区魏武路与新蚌埠路交口西南角
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
娜拉
优先权 :
CN201911134051.2
主分类号 :
G02F1/1362
IPC分类号 :
G02F1/1362  G09G3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元,例如形成集成电路部分的液晶单元
G02F1/1362
有源矩阵寻址单元
法律状态
2022-04-15 :
授权
2020-03-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/1362
申请日 : 20191119
2020-02-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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