玻璃基板磨削量检测系统
授权
摘要
本申请公开了一种玻璃基板磨削量检测系统，其包括基架、控制器和检测装置；所述基架具有承载面，以承载待测玻璃基板，承载面上对应所述待测玻璃基板的至少一侧边缘设有检测轨道，所述检测轨道上间隔设有若干检测位；所述检测装置活动设置于所述检测轨道，所述检测装置与所述控制器信号连接，以使所述检测装置能够沿所述检测轨道对应待测玻璃基板的至少一侧边缘往复运动；所述待测玻璃基板磨削前，所述检测装置能够于所若干述检测位获取所述待测玻璃基板边缘的第一类位置信息；所述待测玻璃基板磨削后，所述检测装置能够于所述若干检测位获取所述待测玻璃基板被磨削边缘的第二类位置信息。
基本信息
专利标题 ：
玻璃基板磨削量检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122284381.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-18
授权号 ：
CN216285288U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
李青李赫然付继龙石志强李震董光明陆成州王广彪张骏伍敏
申请人 ：
芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司
申请人地址 ：
安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号
代理机构 ：
北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵洋
优先权 ：
CN202122284381.9
主分类号 ：
G01N33/38
IPC分类号 ：
G01N33/38 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/208
••涂料，例如镀层
G01N33/38
混凝土；石灰；砂浆；石膏；砖；陶瓷；玻璃
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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