一种用于集中器的载波接口负载纹波测试电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于集中器的载波接口负载纹波测试电路，属于供电测试系统的技术领域，包括排针，转接口K1、K2，开关S1、K3，电容C1、C2，以及电阻R1、R2、R3，本实用新型将工装放置在集中器的载波接口上，通过转接口可以直接将示波器探头固定住，通过开关可以切换负载接入和断开，比现有的测试方式更加简单且准确，同时可以直接测试接口带载能力及短路保护功能，电容起到滤波的效果，避免了环境的干扰耦合到探头上，同时对离散频率杂音测试无干扰，整个装置结构简单，连接方便，成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种用于集中器的载波接口负载纹波测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122736449.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-10
授权号 ：
CN216411538U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
朱华健万久森
申请人 ：
杭州得明电子有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区五常街道文一西路998号19幢702室
代理机构 ：
合肥初航知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
谢永
优先权 ：
CN202122736449.2
主分类号 ：
G01R31/68
IPC分类号 ：
G01R31/68
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/68
可拆开的连接的测试，例如安装于印刷电路板的端子
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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