一种液晶模组多工位瑕疵检测定位装置
授权
摘要

本实用新型涉及液晶模组生产技术领域,且公开了一种液晶模组多工位瑕疵检测定位装置,包括底座,底座的上端固定连接有U形板,底座的上端中部设置有水平的移动板,移动板的上端固定连接有水平的中空板,移动板的下端中部和底座的上端中部均开设有相互垂直的条形槽,两个条形槽的内部均固定连接有滑杆,且两个条形槽的内部共同设置有滑块,滑块的上下两端分别与两个滑杆的杆壁滑动套接,中空板的内部固定设有夹持机构,U形板的内部位于中空板的上方处设置有水平的条形板。本实用新型不仅便于对多个液晶模组同时进行瑕疵检测,省时省力效率高,而且便于根据需要调节灯光模块的高度。

基本信息
专利标题 :
一种液晶模组多工位瑕疵检测定位装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122770705.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-12
授权号 :
CN216718233U
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
马伟石秀青
申请人 :
苏州天目光学科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江经济技术开发区云梨路南侧
代理机构 :
苏州高专知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
孙晓宇
优先权 :
CN202122770705.X
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  G02F1/13  B25B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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