一种具有全岩矿物成分分析的衍射仪
授权
摘要
本实用新型涉及光谱测量技术领域,且公开了一种具有全岩矿物成分分析的衍射仪,包括桌板,所述桌板的顶部通过合页铰接有显示器,所述桌板的顶部开设有与显示器相适配的方槽;本实用新型通过拉动显示器,随后将显示器折叠于方槽的内部,然后将鼠标收纳于抽盒的内部,再将抽盒进行关闭,之后按压桌板,使支撑杆在套管的内部向下移动,再拧动限位螺栓,使限位螺栓通过限位套的配合对支撑杆进行限位固定,从而方便使用者对该装置进行收纳运输;本实用新型通过拉动桌板,随后使桌板带动支撑杆在套管的内部进行上下滑动,然后拧动限位螺栓,使限位螺栓通过限位套的配合对支撑杆进行限位固定,从而方便使用者对该装置进行高度调节。
基本信息
专利标题 :
一种具有全岩矿物成分分析的衍射仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122895913.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-24
授权号 :
CN216350434U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
梁子军甘海浪郭瑷铭黄峰
申请人 :
赢洲科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区春东路508号2幢408室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122895913.2
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载