一种DIP元件检测装置高温测试组件
授权
摘要
本实用新型公开一种DIP元件检测装置高温测试组件，包括高温测试支撑组件和两高温测试安装板，两所述高温测试安装板之间设有高温测试加热板，所述高温测试加热板上表面设有数个其中一端设有开口的高温测试治具，所述高温测试加热板内部设有高温测试加热件，两所述高温测试安装板上表面与每个高温测试治具对应的位置对称设有沿高温测试安装板平移的高温测试探针组件，每个所述高温测试探针组件远离高温测试治具的一端均设有驱动其平移的高温测试平移组件，所述高温测试加热板下方设有延伸至每个高温测试治具内侧且通过位移固定DIP元件的高温测试定位组件。本实用新型通过高温测试加热件加热，并通过高温测试探针组件进行测试，测试方式简单且高效。
基本信息
专利标题 ：
一种DIP元件检测装置高温测试组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122904080.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-23
授权号 ：
CN216411474U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
陈娟丛培伟蒋军州王强
申请人 ：
四川顺弘磁源电子有限公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市三台县梓州产城新区创新科技孵化园3号楼
代理机构 ：
成都聚蓉众享知识产权代理有限公司
代理人 ：
孟凡娜
优先权 ：
CN202122904080.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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