测试针组件及测试装置
授权
摘要
本申请实施例提供一种测试针组件及测试装置。测试针组件包括针床以及连接在针床上的第一定位部和第二定位部。针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。第一定位部设置在多个测试针的外围，且第一定位部上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。第二定位部用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向的相对运动，以使第一定位部抵接在板对板连接器的边缘。开口可以允许各种尺寸的BTB连接器穿过，第一定位部和第二定位部可以共同作用以限制测试针组件和BTB连接器之间的相对运动，使得测试针可以对准各引脚，则该测试针组件可以适用多种不同尺寸的BTB连接器，通用性好且成本低。
基本信息
专利标题 ：
测试针组件及测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921314520.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-14
授权号 ：
CN211206703U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
王为胡义伟
申请人 ：
华为技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
祝乐芳
优先权 ：
CN201921314520.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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