电子组件的测试装置

授权

摘要

一种电子组件的测试装置，包含测试座及多个探针。所述测试座包括多个分别界定出多个供所述探针定位的设置孔的孔壁，每一个孔壁具有定义出两个设置位置的壁面、至少一个在所述设置位置至少其中一个而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第一凸出部，及至少一个介于所述设置位置间而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第二凸出部。定义每一个孔壁沿平行对应的设置孔轴向的纵方向的高度，所述至少一个第一凸出部及所述第二凸出部沿平行所述纵方向的深度，为所述高度的0.05至0.3倍。通过调整所述第一、第二凸出部，能配合所述探针的型态而形成合适的阻抗匹配，以因应高速测试的需求。

基本信息

专利标题：

电子组件的测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921806027.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-25

授权号：

CN211180035U

授权日：

2020-08-04

发明人：

陈冠忠林政辉陈冠宇

申请人：

颖崴科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾高雄市

代理机构：

北京泰吉知识产权代理有限公司

代理人：

张雅军

优先权：

CN201921806027.4

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/073