一种具有万向调节结构的精密仪器检测基座
授权
摘要
本实用新型涉及精密仪器检测技术领域,尤其为一种具有万向调节结构的精密仪器检测基座,包括基座、底座和支撑杆,所述基座底端固定连接有第一电机,所述第一电机与底座固定连接,所述底座内侧下端中心位置固定连接有第二电机,所述第二电机的主轴末端固定连接有轮盘,通过设置的底座、定位架、滚轮和推块,在使用时,通过底座上的第一电机带动基座在底座上转动,基座带动限位块,限位块通过第二滚珠在底座内滑动,基座可以进行转动,底座下端的第二电机带动轮盘,使轮盘带动固定架,使推块在底座内滑动,推块挤压第一弹簧,使定位板增加与基座的摩擦力,方便调节基座的角度,使基座可以在底座上任意转动,方便调节精密仪器的角度,检测更加方便。
基本信息
专利标题 :
一种具有万向调节结构的精密仪器检测基座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122935139.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216348749U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
韩玉良任三社连盼军
申请人 :
西安宏鑫精密机械有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市沣东新城沣东科技产业园36幢1层东户10101号
代理机构 :
西安泛想力专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李思源
优先权 :
CN202122935139.3
主分类号 :
G01D11/30
IPC分类号 :
G01D11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
G01D11/30
专门适用于一台仪器的支架;专门适用于一组仪器的支架
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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