离线测量装置
授权
摘要
本申请提供了一种离线测量装置。离线测量装置包括基座、测量架、厚度测量装置以及拍摄装置；测量架滑动连接于所述基座；厚度测量装置安装在所述测量架上，用于测量极片厚度；拍摄装置安装在所述测量架上，用于采集所述极片边缘的图像，从而确定所述极片的尺寸；所述厚度测量装置与所述拍摄装置在沿所述测量架的滑动方向上依次设置，且一同跟随所述测量架移动，以分别测量所述极片的厚度以及极片的尺寸。本申请提高了极片的离线测量效率。
基本信息
专利标题 ：
离线测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122964067.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
CN216410084U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
张孝平丁德甲乔中涛黄哲宇汪志
申请人 ：
深圳市大成精密设备股份有限公司;常州市大成真空技术有限公司;东莞市大成智能装备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道蚝业社区海滨新村14栋28、29
代理机构 ：
深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司
代理人 ：
王丹
优先权 ：
CN202122964067.5
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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