一种用于电波暗室低频辐射测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于电波暗室低频辐射测试装置，包括检测装置本体，所述检测装置本体的两侧均设有定位槽，所述定位槽的内侧插接有保护壳，所述保护壳后端面的两端均设有安装块，所述安装块的后端设有连接块，所述连接块的一侧设有连接轴，两个所述连接块通过连接轴相互连接，所述连接轴的一端位于连接块两端的内壁均设有限位槽A，所述限位槽A的内侧设有弹簧槽A，所述弹簧槽A的内侧设有弹簧A，所述弹簧A的一端设有卡块A。本实用新型通过旋转旋转块，使支撑块对检测装置本体进行支撑，便于检测装置本体进行放置，通过支撑块提高检测装置本体的测量距离，对不便于近距离接触的物体进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电波暗室低频辐射测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122970056.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN216646651U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
汪鹏李辉
申请人 ：
广东中翰检测技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区新桥街道新二社区东环路438号201
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李迪
优先权 ：
CN202122970056.8
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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