一种用于电波暗室低频辐射测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于电波暗室低频辐射测试装置，包括电波暗室，所述电波暗室的上部固定连接有丝杆固定槽，所述丝杆固定槽的内部固定安装有呈水平设置的滚珠丝杆；通过主动轮、从动轮与滚珠丝杆等结构的设计，通过传动安装的主从动轮测试人员则可通过转动主动轮驱动滚珠丝杆进行对伸缩杆的水平位置进行调节，另外伸缩杆也可对辐射测试仪本体的高度进行调节，从而在人工手动对辐射测试仪本体的位置进行移动调节的同时，避免过多的电气设备产生大量干扰的辐射；另外在第一盖板、第二盖板、置物台、电波暗室的部分表面上均覆盖设置有吸波材料层，从而底部的驱动电机产生的电波辐射进行屏蔽。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电波暗室低频辐射测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022149077.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-25
授权号 ：
CN212905217U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
彭鹏
申请人 ：
深圳市德莱检测技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区宝清路8号双环C栋101-201
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李迪
优先权 ：
CN202022149077.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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