一种带材的侧弯测量装置
授权
摘要
一种带材的侧弯测量装置，包括测量台、数显表，所述测量台的上端面设有呈长方形的带材放置平面，该长方形平面的一侧长边设置向上凸起的高于平面的限位部，所述限位部沿长方形长边的长度为1m，所述限位部面向带材放置平面的一侧为测量基准面，该测量基准面垂直于带材放置平面，位于限位部的中间位置设置一水平贯穿孔，一数显表安装在限位部上，所述数显表的测量杆从水平贯穿孔穿过延伸出测量基准面，其能精确测量带材或板材的侧弯度，通用性高。
基本信息
专利标题 ：
一种带材的侧弯测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122973175.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN216482732U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
廖本洪吴传军张照亮郭坤山
申请人 ：
重庆川仪自动化股份有限公司
申请人地址 ：
重庆市北碚区人民村1号
代理机构 ：
重庆志合专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐传智
优先权 ：
CN202122973175.9
主分类号 ：
G01B5/20
IPC分类号 ：
G01B5/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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