本实用新型涉及一种射频测试屏蔽治具，与测试设备配套使用，以屏蔽外界信号对射频芯片测试过程中的干扰，所述射频测试屏蔽治具包括沿竖直方向依次设置的压头、测试插座模块、PCB板、支撑板及探针组件，其中：压头外罩设有第一屏蔽罩；测试插座模块外罩设有第二屏蔽罩，测试插座模块用于承接射频芯片，且可拆卸式地设置于PCB板上；PCB板外罩设有第三屏蔽罩，PCB板固定于支撑板上；探针组件设有多根探针，多根探针的一端用于抵接射频芯片的测试点，其另一端凸出支撑板，且与PCB板接触；本实用新型提供的射频测试屏蔽治具对外界干扰信号的屏蔽效果好，可适配各种测试设备，射频芯片测试结果可靠性高，且结构简单。