一种二维导轨直线度和垂直度测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种二维导轨直线度和垂直度测试装置，包括：X轴导轨，所述X轴导轨的一端固定连接有X轴电机，所述X轴电机的输出端固定连接有X轴螺杆，所述X轴螺杆上螺纹套接有X轴滑块；Y轴导轨，所述Y轴导轨与X轴导轨垂直设置，所述Y轴导轨的一端固定连接有Y轴电机，所述Y轴电机的输出端固定连接有Y轴螺杆，所述Y轴螺杆上螺纹套接有Y轴滑块；五棱镜，所述五棱镜与X轴滑块的顶部固定连接；光电相敏传感器、激光器和多维调节机构。本实用新型通过多维调整机构、五棱镜和光电相敏传感器等机构的设置，可以快速精确的对二维导轨直线度和垂直度进行测试，从而提升了二维导轨直线度和垂直度的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种二维导轨直线度和垂直度测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123065301.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-08
授权号 ：
CN216283314U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
李振涵马竞彭兴涛
申请人 ：
北京瑞荧仪器科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西四环北路158号1幢三层3-88
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123065301.7
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26 G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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