本实用新型公开了一种同轴光检测装置，其包括分光单元和图像获取单元，分光单元的反光侧设置有检测工位，分光单元的透光侧转动连接有反射单元；对检测工位上的工件进行检测时，分光单元的反光侧将光正射于工件上，随后光携带了工件的表面信息并被反射穿透分光单元的透光侧，到达反射单元并被反射至图像获取单元；其中，反射单元的安装位置，相对于现有技术中同轴光检测结构，其高度更低，适用于生产设备对元件的高度有限制的场景；且反射单元和图像获取单元均能相对于分光单元转动，即图像获取单元能分布于分光单元的各个角度，通过反射单元及时获取工件的信息，使得本申请能够适用更多的安装场景，即本同轴光检测装置具有布置灵活性高的特点。