一种光学非接触检测装置
授权
摘要
本实用新型公开一种光学非接触检测装置，包括：腔体A、腔体B、连接部以及第一检测部，第一检测部包括：检测光发生部、收光镜头以及感光芯片电路板，腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定，检测光发生部设于腔体A内，收光镜头与感光芯片电路板设于腔体B内，腔体A上设有让检测光射出的出射窗口，腔体B上设有用于让检测需要收集的光通过的入射窗口。本光学非接触检测装置布局合理，整个装置体积小巧，采用连接部将腔体A与腔体B连为一个整体，使得腔体A与腔体B的相对位置不变，从而减少误差的产生，提高了检测或加工效率。配备了校准数据，方便用户进行高精度复杂的标定或校准，而且用户使用简单方便。
基本信息
专利标题 ：
一种光学非接触检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123107256.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216484582U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
刘杰波
申请人 ：
深圳立仪科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坪地街道中心社区埔仔路22号A601创世纪大厦6楼
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
冯建华
优先权 ：
CN202123107256.7
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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