本实用新型提供了一种光学元件检测工装，涉及光学检测技术领域，该检测工装包括支架和吊带，吊带的两个自由端设于支架上，吊带包括支撑部，支撑部自然下垂，用于支撑光学元件，支撑部与光学元件至少为线接触。本实用新型利用线接触分散工装对光学元件的反作用力，进而进一步减少和均匀光学元件由此产生的形变，克服了采用V形槽等卡座进行检测时，光学元件会由于自身重力的压迫在与卡座的接触位置产生变形，影响接触位置附近大部分区域的面形(微观表面形状)，导致光学元件的检测结果严重失真的缺陷。