一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置，包括，光学平台以及平整的设置在所述光学平台上的激光器和高速摄像机，所述光学平台上可活动的设置有实验样品，且所述实验样品的上表面平整的设置有含单分散荧光微球的软基体；所述激光器的光束照射在所述软基体的上表面；所述高速摄像机的镜头聚焦于所述软基体的上表面。本实用新型具有操作便捷、测量精度高、能实时测量“润湿脊”变形的有益效果。
基本信息
专利标题 ：
一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123133473.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216348411U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
张亚锋董聪慧吴晓兰李恒余家欣
申请人 ：
西南科技大学
申请人地址 ：
四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号
代理机构 ：
北京远大卓悦知识产权代理有限公司
代理人 ：
张忠庆
优先权 ：
CN202123133473.3
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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