半导体刷检测试大盘
授权
摘要
本实用新型提供了一种半导体刷检测试大盘，涉及半导体刷检技术领域。所述测试大盘包括：窄盘组件和宽盘组件；窄盘组件设置在测试大盘中段；宽盘组件设置在窄盘组件两端，不影响短二极管与窄盘组件限位配合；宽盘组件的径向尺寸大于窄盘组件，使得长二极管两端的引线与宽盘组件限位配合时，中段部位不会磕碰窄盘组件；因此测试大盘能够搭载多种长度的二极管进行测试，省去了更换测试大盘和调试过程，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
半导体刷检测试大盘
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123156839.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
CN216718590U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
汪良恩杨华汪都毕华林
申请人 ：
安徽安美半导体有限公司
申请人地址 ：
安徽省池州市经济技术开发区富安电子信息产业园10号厂房
代理机构 ：
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
叶静
优先权 ：
CN202123156839.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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