一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具
授权
摘要
本实用新型涉及一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，所属轮毂法兰的双平面位置度检测设备技术领域，包括检具机架，所述的检具机架上设有工装盘，所述的工装盘上端设有与工装盘相连接固定的单面限位测量组件和嵌入式限位测量组件。所述的单面限位测量组件包括测量限位盘，所述的测量限位盘上端侧边设有与测量限位盘呈一体化的侧限位块。所述的嵌入式限位测量组件包括嵌入式限位座。具有结构简单、检测难度小和效率高的特点。解决了对两个平面孔位置度检测和垂直方向孔位对称度检测同步测量的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123220812.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
CN216694935U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
夏建祥
申请人 ：
浙江万鼎精密科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区党湾镇镇中村爱华路118号
代理机构 ：
杭州融方专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金磊
优先权 ：
CN202123220812.1
主分类号 ：
G01B21/24
IPC分类号 ：
G01B21/24 G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/24
••用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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