一种放射性同位素污染检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种放射性同位素污染检测装置,涉及检测装置领域,针对现有无法深入样本内部进行污染物检测,导致检测结果有一定误差的问题,现提出如下方案,包括底板和检测主机,所述检测主机一侧的底板上检测容器,所述检测容器的上端开口且沿圆周侧壁开设有对接腔体,所述检测主机位于检测容器的正上方设置有安装板,所述安装板上纵向安装有活塞朝向检测容器的驱动气缸,所述驱动气缸的活塞端部设置有封堵盖,所述封堵盖的下侧面沿圆周设置有对接板。本实用新型通过检测插针能够深入检测样品内部,并撑开检测样品释放内部物质,提高检测的效率和精准度,无需人工打开检测样品,自动插入释放样品,提高了检测过程中的安全性。

基本信息
专利标题 :
一种放射性同位素污染检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123261482.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
CN216595526U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
张丽梅
申请人 :
杭州弥恒科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区浦沿街道龙禧硅谷广场1幢1单元1304室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202123261482.0
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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