一种电子元器件的密封性检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件的密封性检测装置,涉及电子元器件密封性检测设备技术领域。本实用新型包括操作台本体,所述操作台本体顶部设置有两个相互抵触的密封板且两个所述密封板之间存在间隙,所述密封板相对的两侧均设置有板体一且两个所述板体一可相互靠近运动,所述操作台本体上安装有控制所述板体一运动的驱动件。本实用新型通过驱动件控制两个板体一相互靠近运动直到与密封板相抵触,然后使用固定件将两个板体二安装到放置槽内,并且板体二也与密封板抵触,因此两个板体一、两个板体二同时对两个密封板之间四个面的间隙进行密封,保证了接触后的两个密封板之间良好的密封性,保证了实验检测结果的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件的密封性检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123276351.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
CN216433392U
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
刘春燕魏鹏刘凯李磊
申请人 :
刘春燕
申请人地址 :
河北省石家庄市鹿泉区昌盛大街21号
代理机构 :
北京众泽信达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周振
优先权 :
CN202123276351.X
主分类号 :
G01M3/02
IPC分类号 :
G01M3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
法律状态
2022-05-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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