拉伸测试装置以及系统
授权
摘要
本申请提供一种拉伸测试装置以及系统，包括第一测量机构，第一测量机构用于测量发光件的光学特性；第一夹持机构以及第二夹持机构，第一夹持机构和第二夹持机构用于分别夹持发光件的两端；驱动机构，驱动机构用于驱动第一夹持机构和第二夹持机构中的至少一者移动并拉伸发光件，以测量发光件在拉伸状态下的光学特性。本申请通过拉伸重塑了发光件的能带结构，并测量了发光件的光学特性。
基本信息
专利标题 ：
拉伸测试装置以及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123277427.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
CN216646098U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
郭佺洪佳婷王成芦子哲袁密关慧渝
申请人 ：
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘茂源
优先权 ：
CN202123277427.0
主分类号 ：
G01N3/08
IPC分类号 ：
G01N3/08 G01N3/04 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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