一种基于电子天平的密度检测组件
授权
摘要

本实用新型提供了一种基于电子天平的密度检测组件,电子天平包括主体和称量盘,密度检测组件包括架设在称量盘上且不与称量盘接触的托架,托架上安装有水槽,称量盘上垂直固定安装有多个支撑柱,多个支撑柱上端安装有与称量盘平行的上支架,上支架上安装有上托盘,上支架固定有多根吊柱,多根吊柱下端安装有伸入水槽中的下托盘。本实用新型通过在电子天平上部设置密度检测组件,直接实现工件的密度检测,满足工件密度的检测要求,无需使用传统手段的用丝线捆绑工件,能有效节省检测时间,达到批量检测提高效率的要求,提高工作效率,节省检测费用,降低生产成本,能够根据工件的质量调整电子天平,实现了多种质量范围的工件均能进行密度检测。

基本信息
专利标题 :
一种基于电子天平的密度检测组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123286024.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
CN216646169U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
何君吕娟宁罗旭郑军韩莉刘雨彤
申请人 :
西安华山钨制品有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市幸福中路123号
代理机构 :
西安创知专利事务所
代理人 :
魏法祥
优先权 :
CN202123286024.2
主分类号 :
G01N9/02
IPC分类号 :
G01N9/02  G01N9/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重;通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/02
通过测量已知体积的重量
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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