电子天平密度测定附属装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要

本实用新型属于称量的附属装置。它附属于电子天平中,用于测量物体的密度和体积。该附属装置由支承架、托架、金属丝和烧杯组成,结构简单。需要测定物体密度时,将附属装置放入电子天平的称量室内,可测出物体浸没在液体中平衡时的砝码质量,再根据液体静力衡量法测定密度的公式就可得出被测物体的密度。由于该装置是置于称量室内,测量时不受外界环境影响,测量准确。

基本信息
专利标题 :
电子天平密度测定附属装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN90220820.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
1990-09-22
授权号 :
CN2080175U
授权日 :
1991-07-03
发明人 :
邓玉春
申请人 :
冶金工业部钢铁研究总院
申请人地址 :
100081北京市学院南路76号
代理机构 :
冶金专利事务所
代理人 :
成光祜
优先权 :
CN90220820.9
主分类号 :
G01N9/08
IPC分类号 :
G01N9/08  G01G1/18  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重;通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/08
通过在空气和液体中称量测量固体材料的浮力
法律状态
1996-05-15 :
专利权的终止专利权有效期届满
1992-02-19 :
授权
1991-07-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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