一种用于检测晶圆表面温度的检测装置
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摘要

本申请涉及一种用于检测晶圆表面温度的检测装置,包括安装部、热偶和探头,热偶安装于安装部,并且探头设于热偶的检测端;安装部能够固定于机台外,且热偶的检测端能够插入机台的侧壁并进入机台的腔体内,使探头接触晶圆的表面,热偶和机台的侧壁之间沿热偶的周向密封;热偶的外表面包裹有隔热部件。该检测装置能够准确测量晶圆在机台的腔体内加工时的表面温度。

基本信息
专利标题 :
一种用于检测晶圆表面温度的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123366057.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
CN216559388U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
李蓬勃谭华强
申请人 :
拓荆科技股份有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市浑南区水家900号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
李洋
优先权 :
CN202123366057.8
主分类号 :
G01K1/143
IPC分类号 :
G01K1/143  G01K7/02  G01K13/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K1/143
用于测量表面温度
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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