自动测量系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种自动测量系统，涉及测量设备的技术领域，该自动测量系统包括横向调节底座、竖向调节机架和测量主体；所述竖向调节机架设置在所述横向调节底座上，所述测量主体设置在所述竖向调节机架上；所述横向调节底座的长度方向为第一方向。本实用新型提供的自动测量系统的测量主体设置在竖向调节机架上，竖向调节机架能够在横向调节底座上移动，即该测量主体能够在横向进而移动，进而增大了测量主体的测量范围，尤其实现了汽车、船舶、航空领域的大型零部件或者形状复杂零件的测量。
基本信息
专利标题 ：
自动测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123390050.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216523669U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
潘伟华刘文斌吴诚诚王亮
申请人 ：
广州市精谷智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区石楼镇珠江路80号厂房三楼
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张金铭
优先权 ：
CN202123390050.X
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
