一种半导体激光器伏安特性分析测试装置
授权
摘要
本实用新型属于公开了一种半导体激光器伏安特性分析测试装置，包括程控源表，程控源表连接有连接器，连接器用于连接TO激光器，程控源表与计算机控制器相连；所述程控源表按设定要求通过连接器为TO激光器提供电压电流，并测量记录通过TO激光器的电压电流，将测量值转换后发给计算机控制器。本实用新型的有益效果是：可以同时完成正向和反向电压‑电流曲线扫描，提高了测试效率，可保存扫描曲线原始数据，并可按需求对数据进行关键参数提取及分析，提高了测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体激光器伏安特性分析测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123398066.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216646688U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
陈洋俊奚燕萍
申请人 ：
日照市艾锐光电科技有限公司
申请人地址 ：
山东省日照市经济开发区天津路南，太原路东
代理机构 ：
日照朝一专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
慕朝利
优先权 ：
CN202123398066.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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