一种DLP光学特性测试分析方法
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摘要
本发明公开了一种DLP光学特性测试分析方法，包括以下步骤：S201、标定彩色相机采集的亮度值和暗室真实亮度值，包括如下：S2011、将DLP光机按照0‑255的灰度等级投射全幅面光至暗室内的白板上，灰度等级步长Δg为5、10或20数值，得到总的投射图案数量N：N＝255/Δg+1张图像。通过搭建暗室环境基于漫反射白板和彩色相机，实现DLP光学特性测试分析，不仅提高了DPL光机的检测效率，而且降低了检测成本，另外极大提高当前测试手段的测试效率和测量准确度，显著提升DLP光机生产调试的合格率和效率，应用范围广。
基本信息
专利标题 ：
一种DLP光学特性测试分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111638042A
申请号 ：
CN202010479226.X
公开（公告）日 ：
2020-09-08
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
CN111638042B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
韩韶清
申请人 ：
深圳飞嵌科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C2栋1801E区005
代理机构 ：
上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
雍常明
优先权 ：
CN202010479226.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-10-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200529
申请日 : 20200529
2020-09-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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