半导体光敏管动态特性测试方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属电子技术领域，特别是涉及半导体光敏管的动态伏安特性、光电特性的测试方法。本发明利用发光二极管产生线性扫描光强与均匀递增阶梯光强，通过解决光功率信号的动态扫描控制及定标技术，从而实现半导体光敏管动态特性的快速、直观的定量测试，可以给出光敏管完整的伏安特性及光电特性曲线，所给的曲线可以反映出采用静态测试方法而不能发现的半导体光敏管的一些交流特性参数。
基本信息
专利标题 ：
半导体光敏管动态特性测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1081766A
申请号 ：
CN93104704.8
公开（公告）日 ：
1994-02-09
申请日 ：
1993-04-26
授权号 ：
CN1030547C
授权日 ：
1995-12-20
发明人 ：
安毓英胡波李晓春
申请人 ：
西安电子科技大学
申请人地址 ：
710071陕西省西安市太白路2号
代理机构 ：
陕西电子工业专利事务所
代理人 ：
王品华
优先权 ：
CN93104704.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1999-06-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-12-20 ：
授权
1994-02-09 ：
公开
1994-01-26 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1030547C.PDF
PDF下载
2、
CN1081766A.PDF
PDF下载
