执行半导体动态和静态测试的装置
授权
摘要
本实用新型实施方式提供一种执行半导体动态和静态测试的装置，属于半导体的测试技术领域。所述装置包括：母线电容；第一可控开关；负载电感切换模块；第二可控开关；第一信号使能模块；第二信号使能模块；上位机，与所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块连接，用于控制所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块的工作以完成所述动态和静态测试。该方法、装置及存储介质通过采用同一套设备同时实现半导体的动态测试和静态测试操作，解决了现有技术中存在的执行动态测试和静态测试需要两套设备的技术问题，提高了半导体测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
执行半导体动态和静态测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020360072.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-20
授权号 ：
CN212410770U
授权日 ：
2021-01-26
发明人 ：
朱楠辛纪元潘伟杰张乐向礼
申请人 ：
致瞻科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区丽正路1628号4幢1-2层
代理机构 ：
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖冰滨
优先权 ：
CN202020360072.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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