本实用新型公开了一种半导体动态开关参数测试设备，包括底座和顶板，所述底座和所述顶板均水平设置，且所述底座和所述顶板的同侧之间通过竖直的侧板固定在一起。有益效果在于：本实用新型通过支撑轴绕U型支架转动的方式带动转盘翻转至多个不同类型的测试触头本体至竖直朝下，并通过锁定组件的限位杆与限位盘对应的限位孔分别同轴配合的方式来快速锁止测试触头本体竖直朝下的状态，便于完成单个性能参数的测试后能够快速的变换其它所述测试触头本体至竖直朝下的状态来依次的进行其它性能参数的测试，有利于简化测试操作过程，提升了测试效率。