一种晶体晶振的电性能参数测试设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备可以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体晶振的电性能参数测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021550245.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN212749108U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
陈桂东刘贵枝胡聪
申请人 ：
天津必利优科技发展有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区高新区塘沽海洋科技园新北路4668号创新创业园18-A号
代理机构 ：
天津企兴智财知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘影
优先权 ：
CN202021550245.9
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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