一种晶振测试座
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摘要

一种晶振测试座,包括测试箱,所述测试箱的内腔固定连接有固定架,固定架的左侧分别固定连接有隔板和第一电推杆,第一电推杆活塞杆的表面固定连接有连接块,连接块的顶部贯穿测试箱的内腔并延伸至测试箱的上方,测试箱的内腔开设有与连接块的表面滑动连接的第一滑动槽。本实用新型通过固定架和限位架对晶振进行限位,启动第一电推杆带动连接块运动,使得压块挤压活动块的顶部,活动块向下挤压复位弹簧运动,带动测试杆向下运动,抵触在晶振的顶部进行测量,可以快速的对晶振进行测量,接触效果好,测量精度高,解决了在进行测试时,在对多个晶振进行测试时,检测效率较低,不能对大批量的晶振进行检测,实用性较低的问题。

基本信息
专利标题 :
一种晶振测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021405316.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-16
授权号 :
CN212872541U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
董怡兰
申请人 :
深圳市鸿怡电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区圣淘沙骏园2栋B单元1302
代理机构 :
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汤东凤
优先权 :
CN202021405316.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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