一种无源晶振测试电路
授权
摘要
本发明公开了一种无源晶振测试电路，包括：起振驱动模块、晶振起振模块及起振信号输出模块；起振驱动模块包括驱动芯片；晶振起振模块包括：第一电容、第二电容、待测无源晶振以及第一电阻；待测无源晶振的信号输入端与第一电阻的第一端连接，信号输出端与驱动芯片的无源晶振信号输入端连接,接地端接地；第一电阻的第二端与驱动芯片的无源晶振信号输出端连接，且第一电阻外接一电流测试装置；第一电容的第一端接地，第二端与待测无源晶振的信号输出端连接；第二电容的第一端接地，第二端与第一电阻的第一端连接；驱动芯片的起振信号输出端与起振信号输出模块连接，起振信号输出模块外接示波器。通过实施本发明能对无源晶振的性能参数进行测试。
基本信息
专利标题 ：
一种无源晶振测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114019342A
申请号 ：
CN202210002653.8
公开（公告）日 ：
2022-02-08
申请日 ：
2022-01-05
授权号 ：
CN114019342B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
钱航刘国清杨广王启程聂晓楠谭开荣胡帅王军
申请人 ：
深圳佑驾创新科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋401
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭浩辉
优先权 ：
CN202210002653.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2022-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220105
申请日 : 20220105
2022-02-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
