一种晶圆级音叉晶体振子频率激光微调装置测试平台
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摘要

一种晶圆级音叉晶体振子频率激光微调装置测试平台,其组成包括滑轨一,其特征在于:所述滑轨上安装有可以在其上横向滑动的滑轨二,所述滑轨二上安装有可以在其上纵向滑动的滑块,所述滑块上固定安装有升降电机,所述升降电机的顶端固定安装有测试平台,所述测试平台为空心结构,其上表面上均匀布置有气孔,其侧壁上通过抽气管连接抽风机。本实用新型定位更加精准,利于提高加工效率和速度。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆级音叉晶体振子频率激光微调装置测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022526416.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-05
授权号 :
CN213581245U
授权日 :
2021-06-29
发明人 :
汪晓虎谢凡黄大勇鲁壑李天宝
申请人 :
随州泰华电子科技有限公司
申请人地址 :
湖北省随州市随州经济开发区深圳工业园
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022526416.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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