一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置,包括脉冲入射光源系统、显微镜系统、样品池及电信号采集系统和光谱采集系统,其优点在于,实现对光电材料微区瞬态表面光电压谱的测试,可通过与光谱仪器联用实现发光光谱和发光寿命谱的测量,全面表征材料光生载流子的动力学行为。
基本信息
专利标题 :
一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355142A
申请号 :
CN202210002826.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韩克利郑道元
申请人 :
山东大学
申请人地址 :
山东省青岛市即墨区滨海路72号
代理机构 :
青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
付秀颖
优先权 :
CN202210002826.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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