一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置

实质审查的生效

摘要

本发明提供一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置，包括脉冲入射光源系统、显微镜系统、样品池及电信号采集系统和光谱采集系统，其优点在于，实现对光电材料微区瞬态表面光电压谱的测试，可通过与光谱仪器联用实现发光光谱和发光寿命谱的测量，全面表征材料光生载流子的动力学行为。

基本信息

专利标题：

一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114355142A

申请号：

CN202210002826.6

公开（公告）日：

2022-04-15

申请日：

2022-01-04

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

韩克利郑道元

申请人：

山东大学

申请人地址：

山东省青岛市即墨区滨海路72号

代理机构：

青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

付秀颖

优先权：

CN202210002826.6

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01N21/64

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2022-05-03 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220104

2022-04-15 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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