多发光样品发光强度的测量系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种多发光样品发光强度的测量系统,本实用新型技术方案基于光纤束对多个发光样品的发光强度进行快速测量,能够同时高效率地采集大量微弱发光信号,便于实现快速分析处理,同时也兼具成本低、制作简单和使用范围广的优点。

基本信息
专利标题 :
多发光样品发光强度的测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921061399.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-08
授权号 :
CN210487609U
授权日 :
2020-05-08
发明人 :
高琛何潭陈根鲍骏
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
张静
优先权 :
CN201921061399.9
主分类号 :
G01N21/76
IPC分类号 :
G01N21/76  G01J1/40  G01J1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/75
材料在其中经受化学反应的系统,测试反应的进行或结果
G01N21/76
化学发光;生物发光
法律状态
2020-05-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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