光检测系统及用于测量来自样品的光的系统
授权
摘要
本申请公开了光检测系统及用于测量来自样品的光的系统。描述了用于检测光(例如，在液流中)的系统。根据某些实施例的光检测系统包括：波长分离器，其配置为由光源产生第一、第二和第三预定光谱范围的光；和第一、第二和第三光检测模块，其配置为接收所述第一、第二和第三预定光谱范围的光中的每一个，所述光检测模块具有多个光电检测器和将具有预定亚光谱范围的光传送到光电检测器的光学组件。还提供了用于测量由样品发射的光(例如，在液流中)的系统和方法以及具有三个或更多个波长分离器、多个光电检测器和光学组件的套件。
基本信息
专利标题 ：
光检测系统及用于测量来自样品的光的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120336571.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-02-05
授权号 ：
CN216594729U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
菲德尔·伊尔科夫
申请人 ：
贝克顿·迪金森公司
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
侯丽英
优先权 ：
CN202120336571.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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